請輸入產(chǎn)品關(guān)鍵字:
FPD平板顯示器,LCD液晶顯示器,LCM液晶顯示模組測試設(shè)備
Environmental Stress Chamber HAR sries
Temperature (& Humidity)Chamber Platinous K Serie
Temperature(Humidity)&Vibration Combined Environme
Temperature Chamber(Industrial Oven)
Rapid-Rate Thermal Cycle Chamber
Highly Accelerated Stress Test System(HAST)
Walk-in Type Temperature(&Humidity)Chamber
Faster Temperature(&Humidity)Chamber
Compact Ultra Low Temperature Chamber
Bench-top Type Temperature(&Humidity)Chamber
Constant Climate Cabinet (Temp. & humidity)
Free-Access Temperature(&Humidity)Chamber
暫無信息 |
昆山宏展環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)
最近更新時間:2010-3-22
提 供 商:廣東宏展科技有限公司資料大?。?/span>0K
文件類型:下載次數(shù):1次
資料類型:瀏覽次數(shù):730次
環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)是一個經(jīng)常有爭執(zhí)的可靠性實踐工具。當(dāng)處理ESS時,人們必須把它當(dāng)作一個過程而不是一個測試。人們不歡迎有不接受/不合格的準(zhǔn)則和失效。
——ESS是一個過程,此過程是為了使電子產(chǎn)品中潛在的缺陷早期失效而在其上應(yīng)用環(huán)境的刺激物如快速的熱循環(huán)和隨機的振動。篩選過程的一個同等重要和不可分離的影響是項目的電子測試,已經(jīng)作為篩選的一個重要部分來執(zhí)行,以便檢測和正確地識別已經(jīng)陷入失效的缺陷。
組裝 級別 | 選擇 | 定位 | ||||
| | | | 優(yōu)點 | 缺點 | |
| E | M | M | N | 每個析出的缺陷的花費是zui地的(非電力篩選) | 測試缺陷效率相對比較低 |
| ||||||
單元 | E | M | E | M | 與裝配級別相比具有較高的測試缺陷效率 | 每個析出的缺陷的花費比裝配級高很多 |
| ||||||
系統(tǒng) | E | M | E | M | 高測試缺陷效率 | 每個缺陷的花費zui高 |
▲失效的定位
▲執(zhí)行的測試
▲數(shù)據(jù)和時間
▲部分?jǐn)?shù)字和一系列號碼
▲失效癥狀
▲有利的環(huán)境
▲觀察失效的個體
▲失效的根由
▲采取的糾正措施
▲糾正措施插件的日期和一系列的號碼
—— 統(tǒng)計程序控制(SPC)和柏拉圖圖表是監(jiān)測ESS能力的原始工具。從包含在FRACAS數(shù)據(jù)庫中提煉數(shù)據(jù)整理成報告,這些報告被用來監(jiān)測ESS參數(shù)以已經(jīng)建立的需求為背景。典型的關(guān)鍵ESS參數(shù)包括潛在的缺陷,應(yīng)力篩選強度,潛在的缺陷殘余,缺陷趨勢分析和現(xiàn)場觀察的失效