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閱讀：7發(fā)布時(shí)間：2025-7-4
X射線熒光(XRF)測厚儀，簡稱熒光測厚儀、熒光膜厚儀，是在很多領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用的高精度儀器，那么什么是XRF呢? XRF,X射線熒光光譜分析法(X Ray Fluorescence),利用初級(jí)X射線光子或其他微觀察離子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。XRF鍍層測厚儀又是什么呢？下面且看小編的介紹吧：
XRF熒光測厚儀俗稱X射線熒光測厚儀、熒光測厚儀、熒光膜厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。比如金屬鍍層檢測，PCB線路板鍍層分析等。
XRF熒光測厚儀原理是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
XRF熒光測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域主要集中在：電路板、端子連接器、LED、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、五金電鍍、珠寶首飾、汽車配件、檢測機(jī)構(gòu)以及研究所和高等院校等；
隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線熒光(XRF)熒光測厚儀,向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測試精度可達(dá)0.001 μm，測量多鍍層分析，1～5層，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用泛的測厚儀器。
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