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閱讀：1發(fā)布時間：2025-7-4
鍍層測厚儀是一種專業(yè)鍍層測量PCB電路板膜厚的工具，而且主要應(yīng)用在一些重要的金銀首飾加工、電鍍鍍層、科學(xué)研究等行業(yè)中進(jìn)行分析測量使用。因此對于這些機(jī)構(gòu)來說擁有一臺專業(yè)的鍍層測厚儀很重要，也能給各企業(yè)帶來更多實用性的幫助，那么在選購鍍層測厚儀是如何實現(xiàn)測厚的呢？鍍層測厚儀的測厚原理是什么呢？下面小編介紹給大家：
1、首先對我們要了解XRF如何測量元素成分含量的：
一個元素的成分計算公式可以簡單用下面的公式表示：F?I=C,(這里C是樣品含量，F(xiàn)是光譜中此元素比例系數(shù)，I是此元素在光譜中的激發(fā)強(qiáng)度)，首先標(biāo)樣中已知C(此處用百分比表示)，將此標(biāo)樣放入光譜，按著測試條件開X射線激發(fā)標(biāo)樣，此時得到一個I的值，C/I=F(這樣就能計算出此元素的含量輕度比列系數(shù))。
之后，待測樣品放入光譜，同樣條件用X射線激發(fā)樣品，獲得待測樣品的I值，用這個I值乘以之前得到的F值，F(xiàn)?I=C 就能計算出此樣品的含量C的值，這就是XRF測量元素含量的基本原理。
2、鍍層測厚儀測試膜厚原理：
同理,Th=F?I （這里Th是厚度，單位微米或其他長度單位）
首先也是用標(biāo)樣來標(biāo)定，求出此樣品的某元素鍍層厚度強(qiáng)度比F。
測試待測樣品時，用待測樣品的鍍層元素激發(fā)的I值乘以之前得到的F值，F(xiàn)?I=Th這樣就能計算出待測樣品的此元素鍍層厚度值。
綜上所述，就是小編為大家所講述鍍層測厚儀如何實現(xiàn)鍍層測量PCB電路板膜厚，知道鍍層測厚儀的測厚原理，鍍層測厚儀才能發(fā)揮出最良好的使用效果。
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