恒溫恒濕測(cè)試變化的設(shè)備主要用于測(cè)試、實(shí)驗(yàn)和試驗(yàn)確定電子產(chǎn)品及電子產(chǎn)品零配件或材料在進(jìn)行高溫、低溫、或恒定交變?cè)囼?yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能?？蓾M足以下標(biāo)準(zhǔn)：GB2423.2-2008（IEC68-2-2）試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)