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高低溫沖擊機搭配液晶顯示屏測量系統(tǒng)

參考價	￥ 8888
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具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱成都中冷低溫科技有限公司
品牌其他品牌
型號
所在地成都市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間2024/12/3 15:08:41
訪問次數(shù)185

產(chǎn)品標簽:

高低溫沖擊機液晶顯示屏測量系統(tǒng)高低溫試驗功率器件

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公司介紹主營產(chǎn)品

成都中冷低溫科技有限公司簡稱中冷公司(CHINACRYO)是一家專注于超低溫解決方案的創(chuàng)新型高科技公司，企業(yè)通過*、歐盟CE認證。公司主要生產(chǎn)高低溫沖擊氣流儀（熱流儀）、超低溫制冷機、高低溫循環(huán)箱、高低溫沖擊箱、環(huán)境模擬倉、老化測試設(shè)備等，各種為5G通訊、光模塊、集成電路、芯片、航空航天、天文探測、電池包、氫能源等領(lǐng)域的可靠性測試提供整套溫度環(huán)境解決方案，位于成都總部的技術(shù)中心超過3000平方米，在天津、上海、蘇州、深圳、武漢、珠海、重慶設(shè)有辦事機構(gòu)。公司核心技術(shù)團隊成員平均行業(yè)經(jīng)驗超過12年，超過40%的工程師擁有高級職稱,擁有外國企業(yè)工作經(jīng)驗工程師超過30%。公司自主研發(fā)的高低溫沖擊氣流儀（熱流儀）和超低溫制冷機處于靠前地位，出口歐美及東南亞，在業(yè)內(nèi)有較高的認可度。

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高低溫沖擊設(shè)備，氣流儀，熱流罩

產(chǎn)品簡介在線詢價

高低溫沖擊機搭配液晶顯示屏測量系統(tǒng)，ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學檢測設(shè)備, 提供顯示行業(yè) LCD, LCM, TV, monitor, OLED 器件, OLED 模組, Micro LED, Mini LED, 車載顯示, LED Light Bar, 背光模組等器件在高低溫環(huán)境下的光學性能測試。

高低溫沖擊機搭配液晶顯示屏測量系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

售價僅供參考）

高低溫沖擊機搭配液晶顯示屏測量系統(tǒng)

ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學檢測設(shè)備, 提供顯示行業(yè) LCD, LCM, TV, monitor, OLED 器件, OLED 模組, Micro LED, Mini LED, 車載顯示, LED Light Bar, 背光模組等器件在高低溫環(huán)境下的光學性能測試。

高低溫沖擊機搭配液晶顯示屏測量系統(tǒng)

高低溫環(huán)境下 OLED 器件光學性能測試系統(tǒng)

熱流儀TS580B與德國Instrument Systems DMS 液晶顯示屏測量系統(tǒng)（原AUTRONIC-MELCHERS）聯(lián)用進行 LED 高低溫環(huán)境測試. 每個 DMS 系統(tǒng)都可以擴展一個適當?shù)睦錈嵯到y(tǒng), 以進行 LED 光學顯示特性和一致性測試的溫度相關(guān)測量。

高低溫沖擊機搭配液晶顯示屏測量系統(tǒng)

使用熱流儀TS580B的優(yōu)勢：

通訊接口：RS-232，LAN；可選：GPIB，可連接光學測量系統(tǒng) GPIB (IEEE-488) 直接控制
集成方便：TS580B輸氣軟管可直接與光學測量系統(tǒng)測試腔體連接
溫度范圍廣：-80℃ 至 +225 °C

程序模式控制：根據(jù)不同溫度環(huán)境測試需求, 可設(shè)置 0-20 組溫度循環(huán)沖擊測試
溫度變化速率快：- 55°C 至 +125°C 約 10 s
輸出氣流量： 4 ~ 18 scfm（1.9L/s~8.5L/s）

ZONGLEN 熱流儀可兼容市面上各品牌光學檢測設(shè)備，完成再電高低溫環(huán)境下的光學性能測試，是光學檢測設(shè)備的組成之一，并持續(xù)穩(wěn)定運行, 故障率極低，為晶圓、芯片、光通信、汽車電子、激光、集成電路、航空航天、天文探測、電池包、氫能源、移動儲能等領(lǐng)域的制造和測試過程中提供整套溫度環(huán)境解決方案。

高低溫沖擊機搭配液晶顯示屏測量系統(tǒng)

ThermoTST TS580B是一臺精密的高低溫沖擊氣流儀，溫度范圍-80°C到+225°℃，溫度轉(zhuǎn)換測試能力強。溫度轉(zhuǎn)換從-55°C到+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒；經(jīng)長期的多工況驗證，滿足各類生產(chǎn)環(huán)境和工程環(huán)境的要求。TS580是純機械制冷，不用液氮或其它消耗性制冷劑。提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求.