激光法導熱分析儀
激光法導熱分析儀
儀器簡介
LFA 457 代表了當代激光閃射測量技術的進展。儀器為桌上型，溫度范圍 -125 ... 1100°C。為了覆蓋這一溫度范圍，提供了兩種可自由切換的爐體。
系統(tǒng)所使用的全新的紅外傳感器技術使得用戶甚至可以在 -125°C 的低溫下測量樣品背部的溫升曲線。
儀器既可使用內(nèi)置的自動樣品切換器在一次升溫中對多個較小的樣品進行測量，也可單獨測量較大的樣品（zui大直徑 25.4mm）。
真空密閉系統(tǒng)使得儀器可以在多種用戶可選的氣氛中進行測量。
樣品支架、爐體與檢測器的垂直式排布方便了樣品的放置與更換，同時使得檢測信號擁有*的信噪比。
LFA 457 是zui強大與靈活的 LFA 系統(tǒng)，適用于包括汽車制造、航空航天與能源技術在內(nèi)的各種領域的常規(guī)材料與新型高性能材料的表征。
LFA 457 MicroFlash® - 技術參數(shù)
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LFA 457 MicroFlash® - 軟件功能
LFA 457 MicroFlash® 的測量與分析軟件是基于 MicroSoft Windows® 系統(tǒng)的 Proteus® 軟件包，它包含了所有必要的測量功能和數(shù)據(jù)分析功能。這一軟件包具有極其友善的用戶界面，包括易于理解的菜單操作和自動操作流程，并且適用于各種復雜的分析。Proteus 軟件既可安裝在儀器的控制電腦上聯(lián)機工作，也可安裝在其他電腦上脫機使用。
LFA 部分軟件功能：
- 精確的脈沖寬度修正與脈沖能量積分。
- 熱損耗修正。
- 集成了所有傳統(tǒng)模型。
- 使用非線性回歸進行 Cowan 擬合。
- 改進的 Cape-Lehmann 模型，使用非線性回歸，將多維熱損耗納入計算。
- 對于半透明樣品的輻射修正。
- 二層與三層結構樣品：通過非線性回歸方式進行擬合，并將熱損耗納入計算。
- 計算多層樣品的接觸熱阻。
- 比熱測量：使用已知比熱的標樣、通過比較法進行計算。
- 內(nèi)置數(shù)據(jù)庫。
NETZSCH LFA Proteus® 的分析界面
LFA 457 MicroFlash® - 應用實例
多晶石墨
使用配有低溫系統(tǒng)的 LFA 457 對多晶石墨進行了測試，測試曲線上材料在室溫附近導熱系數(shù)達到zui大，一般解釋為由于該材料的 Debye 溫度較高（> 1000 K）所致。在峰值右側的高溫區(qū)域，熱擴散系數(shù)隨溫度上升而下降得比較快，主導了該區(qū)域的導熱系數(shù)變化的趨勢。峰值左側的低溫區(qū)則比熱下降的非?？欤@主導了低溫下該材料的導熱系數(shù)隨溫度變化的趨勢。
聚碳酸酯
聚碳酸酯（PC）是一種非常常見的聚合物材料，常用于電動工具包裝。為了通過有限元素模擬的方法以優(yōu)化生產(chǎn)／模制工藝，需要知道它的熱物性參數(shù)。如果使用 LFA 457 的熔融樣品容器，則不僅能測得固態(tài)下、也能測得玻璃化轉變溫度以上（> 140°C）的材料的熱擴散系數(shù)。若已知密度與比熱數(shù)據(jù)（可用 DSC 測試），則可計算得到導熱系數(shù)。此外，在比熱曲線與熱擴散曲線上還可以看到玻璃化轉變（在導熱系數(shù)曲線上則無法看到這一類似于二級相變的轉變過程）。
