智能恒溫水浴鍋

智能恒溫水浴鍋系列產品，其中單孔、單孔單溫、一列二孔、二列四孔、二列六孔等又一次技術改進，無論在設計、工藝、溫控及加工成型方面均于同行業(yè)同類產品。
產品外殼：采用優(yōu)質不銹鋼拉絲板材
不銹鋼內膽：從原焊接工藝改為拉伸成型工藝
控溫系統(tǒng)：采用微機PID智能控制，溫度控制更加精確
儀器上蓋：采用優(yōu)質耐高溫材料，保證長期使用不生銹
建議使用蒸餾水進行實驗、以延長電加熱器及測溫探頭的使用壽命
名稱單孔
型號TR-HW.SY11-KP1
額定功率（W）300
工作室容量（mm）150x140x90
外形尺寸（mm）225x185x180
電源200V±2V 50±1Hz
溫控范圍室溫+5℃-99.9℃

產品名稱：電阻率方塊電阻測試儀  產品型號：KDB-1

本方阻測試新產品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。 
由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電流均不相同，因此KDB-1型測試儀可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭，儀器的測試電流分7檔，可由0.4μA增加到大為1000mA，測試電壓可由8V增加到80V，測試電壓和測試電流均可連續(xù)調節(jié)，給薄膜、涂層的研制者提供了一個摸索測試條件的寬闊空間。 
由于儀器設有恒流源開關，并且所有電流檔在探針與樣品接觸后均有電流延時接通的功能，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產生的電火花而受到損壞。 
儀器性能 
方阻測量范圍：1×10-5～2×106Ω/□，小分辨率1×10-5Ω/□； 
電阻率測量范圍：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m； 
探針壓力：25g～250g； 
探針曲率半徑：25μm～450μm 
（注：探針壓力及曲率半徑可根據(jù)薄膜材料性能及用戶需求定制）； 
測試電流分7檔：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA； 
測試電壓：（1μA～10 mA檔）12～80V連續(xù)可調 
           （100mA檔）    8～36V連續(xù)可調 
          （1000mA檔）    8～15V連續(xù)可調； 
測量方式：手動或自動（配置測試軟件）； 
測量對象：導電薄膜、半導體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜；各種半導體材料的電阻率。 
 

產品名稱：高精度不溶性微粒檢測儀 不溶性微粒檢測儀 產品型號：ZWJ-20B

高精度不溶性微粒檢測儀 不溶性微粒檢測儀 型號：ZWJ-20B

儀器性能特點： 
滿足輸液器具GB8368-2005、 GB8368-1998等標準的規(guī)定，設有多種標準的檢測程序。 
采用進口激光光源壽命長，保證了各種有色無色澄明樣品測試精度。 
采用進口樣品流動池，百級潔凈度保證檢品數(shù)據(jù)的準確性。 
置單通道獨立校準程序及通道分辨率自動校準。優(yōu)于國內外同行業(yè)儀器。 
采用LED彩色大屏幕液晶顯示屏，同時顯示多通道測試數(shù)據(jù)及直方圖等信息。 
主要技術指標： 
光學系統(tǒng):激光光阻法  
測試范圍:1～500μm 
通道設置:8個通道 4-6μm、≥5μm、≥10μm、15-25μm、≥25μm、25-50μm、51--100μm、＞100μm、 等通道查看、測試、打印  
具備無限次通道自動校驗功能?？勺詣有ｒ炌ǖ罃?shù)據(jù)和通道分辨率；無需上門校驗；實現(xiàn)用戶隨時獲取精準數(shù)據(jù)的目標。優(yōu)于《中國藥典》  
采用LED彩色大屏幕液晶顯示屏；具有自動處理、可以存儲近萬次歷史使用數(shù)據(jù)；可調用和打印功能；  
內置《中國藥典》數(shù)百種注射劑藥品名稱，自動調用及打印藥品名稱  
進樣體積:0.2～2000ml;注射泵自設定取樣體積 . 
注射器體積：10mL  （可選25mL） 
計數(shù)范圍:0～9999999粒  
準確度:規(guī)定值±10％ (可控制±5％) 
相對標準偏差:RSD<2％（標準粒子≥1200粒/ml）  
工作溫度:10～40℃  
攪拌速度:0～2000r/min，界面中可調  
電源:AC220V±10%；50Hz；≤45W 
體積:390*280*380 （mm） 

產品名稱：落球沖擊試驗機 產品型號：SF-QLQ

落球沖擊試驗機  型號：SF-QLQ

一.產品概述：

本機為測電子、電器、家電、塑膠、通迅等成品或元件在安裝接過程中遇到碰撞而設計，從而評估產品結構是否有不良或不夠試驗測試，以一定規(guī)定重量之鋼球，在一定的高度自由落下，打擊試料、元件，來觀察產品受損程度。

二.技術指標：

1. 沖擊高度范圍：0—2000mm（手動可調，鋼尺顯示刻度）

2. 跌落高度顯示：刻度鋼尺加直角尺垂直指示

3. 跌落高度精度：1mm

4. 跌落桿形狀：方桿

5. 控制及升降方式：電路控制電磁鐵吸盤，手動升降電磁體固定桿

6. 試料尺寸：≤280*100*40mm（長寬高）

7. 砝碼規(guī)格：112g、198g、225g、357g、533g、1041g、2280g

8. 砝碼重量允許誤差：±5g

9. 樣品夾持方式：夾具固定夾持

10. 控制箱：底部四周有防護網(wǎng)箱

11. 體積：約500*500*2100mm

12. 電源：AC220V 50Hz